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Reliability and Degradation of III-V Optical Devices Focusing on Gradual Degradation
Osamu Ueda
Kanazawa Institute of Technology
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逐年被引趋势
210
213
17
19
22
23
关键指标
7
被引次数 · OpenAlex
2.53
领域内被引倍数
同类平均 = 1
同类平均 = 1
前 9%
引用位次
同领域 · 同年份 · 同类型
同领域 · 同年份 · 同类型
69
参考文献
Google Scholar 与 OpenAlex 的被引统计范围不同，数值存在差异属正常。
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学术脉络
学科主题
工程Semiconductor materials and devices
Semiconductor Quantum Structures and Devices · Semiconductor materials and interfaces
参考文献 69
A study of deep levels in GaAs by capacitance spectroscopy
被引 345D. V. Lang, R. A. Logan · Journal of Electronic Materials · 1975
Transmission electron microscopy of materials
被引 507Gareth Thomas, M. J. Goringe · 1979
Reliability and degradation of III-V optical devices
被引 122Osamu Ueda · Medical Entomology and Zoology · 1996
此处列出前 3 条
引用本文 7
Thermoreflectance spectroscopy—Analysis of thermal processes in semiconductor lasers
被引 61Dorota Pierścińska · Journal of Physics D Applied Physics · 2017
Design of novel geometries for microchannel heat sinks used for cooling diode lasers
被引 36Sajjad Baraty Beni, Alireza Bahrami, Mohammad Reza Salimpour · International Journal of Heat and Mass Transfer · 2017
In-situ observation of lateral AlAs oxidation and dislocation formation in VCSELs
被引 10Robert Fabbro, Raffaele Coppeta, Michael Pusterhofer · Micron · 2022
按被引量排序，此处列出前 3 条