研究论文
Depth Profiling of Electronic Transport Properties in $$\mathrm{H}^{+}$$ H + -Implanted n-Type Silicon
Rui Tai, Chinhua Wang, Jingpei Hu, Andreas Mandelis
Soochow University University of Toronto
来源International Journal of Thermophysics
年份2014
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摘要与影响
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逐年被引趋势
110
121
25
关键指标
2
被引次数 · OpenAlex
0.00
领域内被引倍数
同类平均 = 1
同类平均 = 1
前 91%
引用位次
同领域 · 同年份 · 同类型
同领域 · 同年份 · 同类型
8
参考文献
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学术脉络
学科主题
工程Silicon and Solar Cell Technologies
Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis · Ion-surface interactions and analysis
参考文献 8
Thermal annealing induced photocarrier radiometry enhancement for ion implanted silicon wafers
被引 16Xianming Liu, Bincheng Li, Qiuping Huang · Chinese Physics B · 2010
Theory of space-charge layer dynamics at oxide-semiconductor interfaces under optical modulation and detection by laser photocarrier radiometry
被引 18Andreas Mandelis · Journal of Applied Physics · 2005
Three-layer photocarrier radiometry model of ion-implanted silicon wafers
被引 39Bincheng Li, Derrick Shaughnessy, Andreas Mandelis · Journal of Applied Physics · 2004
此处列出前 3 条
引用本文 2
Numerical simulation of the PIII process considering temperature-dependent thermophysical properties in a viscous sheath
被引 1Mohammad Sattari, Jalal Ghasemi · The European Physical Journal D · 2025
Stimulated excitation of thermal diffusion waves in a magnetized plasma pressure filament
被引 1Scott Karbashewski, R. D. Sydora, B. Van Compernolle · Physics of Plasmas · 2021
按被引量排序，此处列出前 3 条