研究论文
ARC-Det: Adaptive Range-Aware Context Modeling for Printed Circuit Board Defect Detection
Xianjun Du, Jie Wang
Lanzhou University of Technology
来源Journal of Electronic Testing
年份2026
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参考文献
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学术脉络
学科主题
工程Industrial Vision Systems and Defect Detection
Advanced Neural Network Applications · Infrastructure Maintenance and Monitoring
参考文献 47
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