研究论文
Impact of ultra-thin titanium film thickness on titanium silicides: specific contact resistivity and thermal stability
Haisu Gao, Jing Xu, Xu Chen, Chang Liu, Jinbiao Liu, Xianglie Sun, Jianfeng Gao, Shujuan Mao 等 11 位
Institute of Microelectronics State Key Laboratory on Integrated Optoelectronics University of Chinese Academy of Sciences Beijing Academy of Science and Technology
来源Journal of Materials Science Materials in Electronics
年份2026
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学术脉络
学科主题
物理Semiconductor materials and interfaces
Semiconductor materials and devices · Copper Interconnects and Reliability
参考文献 27
Prospective of Semiconductor Memory Devices: from Memory System to Materials
被引 238Cheol Seong Hwang · Advanced Electronic Materials · 2015
<i>Ab initio</i> study of the structural stability of TiSi2 compounds
被引 31C. Colinet, W. Wolf, R. Podloucky · Applied Physics Letters · 2005
Metastable phase formation in titanium-silicon thin films
被引 401R. Beyers, Robert Sinclair · Journal of Applied Physics · 1985
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