研究论文
The comprehensive semantic segmentation approach for discrete feature of Si3N4 wafer microdamage
Tao Chen, Xin Xia, Miao Mei, Kun Hu, Hu Chen, Jiao Li, Nanxing Wu
来源Ceramics International
年份2024
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学术脉络
学科主题
工程Industrial Vision Systems and Defect Detection
Advanced Neural Network Applications · Infrastructure Maintenance and Monitoring
参考文献 25
Joint modeling of classification and regression for improving faulty wafer detection in semiconductor manufacturing
被引 36Seokho Kang · Journal of Intelligent Manufacturing · 2018
Microstructure and hot corrosion behavior of hot dip siliconized coating on Ni-base superalloy IN738LC
被引 19Vahid Tavakoli Targhi, Hamid Omidvar, S.M.M. Hadavi · Materials Research Express · 2020
Excellent Thermal Stability of Optical Fiber Grating Inscribed on Thermosetting Silicone
被引 2Bin Zhou, Yilong Zeng, Barèrèm-Mêlgueba Mao · Journal of Lightwave Technology · 2020
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