研究论文

Method for diagnosing gamma radiation faults in digital circuits of optical encoders using AFSC-transformer

Tian Qiu, Zhonghua Wang, Dongshuang Hu, Zhuojun Chen, Chao Jiang

Hunan University　China National Chemical Engineering (China)

来源Measurement

年份2025

DOI10.1016/j.measurement.2025.120229

原文https://doi.org/10.1016/j.measurement.2025.120229

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学术脉络

学科主题

工程

Radiation Effects in Electronics

VLSI and Analog Circuit Testing · Semiconductor materials and devices

参考文献 49

Radiation-induced edge effects in deep submicron CMOS transistors

F. Faccio, G. Cervelli · IEEE Transactions on Nuclear Science · 2005

被引 419

COMPLEX NETWORK APPLICATION IN FAULT DIAGNOSIS OF ANALOG CIRCUITS

Minfang Peng, Jiajia Wang, Chi K. Tse · International Journal of Bifurcation and Chaos · 2011

被引 16

Total ionizing dose effects and radiation testing of complex multifunctional VLSI devices

Dmitry V. Boychenko, O. A. Kalashnikov, Alexander Y. Nikiforov · Facta universitatis - series Electronics and Energetics · 2015

被引 30

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Radiation-induced edge effects in deep submicron CMOS transistors

F. Faccio, G. Cervelli · IEEE Transactions on Nuclear Science · 2005

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COMPLEX NETWORK APPLICATION IN FAULT DIAGNOSIS OF ANALOG CIRCUITS

Minfang Peng, Jiajia Wang, Chi K. Tse · International Journal of Bifurcation and Chaos · 2011

被引 16

Total ionizing dose effects and radiation testing of complex multifunctional VLSI devices

Dmitry V. Boychenko, O. A. Kalashnikov, Alexander Y. Nikiforov · Facta universitatis - series Electronics and Energetics · 2015

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