研究论文开放获取
Embedded injection engineering of SCR devices for enhanced ESD robustness in high-voltage BCD process
Jie Hu, Yang Wang, Tian-ping Sun, Zhong-Xin Wu, Tian-Yang Lu
Xiangtan University Shenzhen Goodix Technology (China)
来源Microelectronics Journal
年份2026
阅读操作
确认中在文库中上传 PDF 后可生成中文音频讲解。
摘要与影响
摘要 · 节选
暂未获取摘要。可打开原文或 PDF，后续可基于全文生成更完整的速读。
逐年被引趋势
暂无年度引用数据
关键指标
0
被引次数 · OpenAlex
0.00
领域内被引倍数
同类平均 = 1
同类平均 = 1
前 28%
引用位次
同领域 · 同年份 · 同类型
同领域 · 同年份 · 同类型
25
参考文献
Google Scholar 与 OpenAlex 的被引统计范围不同，数值存在差异属正常。
AI 辅助阅读
依据：文献信息
论文问答
当前基于文献信息回答
可就本文提问；依据不足时会说明。
学术脉络
学科主题
工程Electrostatic Discharge in Electronics
Silicon Carbide Semiconductor Technologies · Radiation Effects in Electronics
参考文献 25
Novel LDNMOS embedded SCR with strong ESD robustness based on 0.5 μm 18 V CDMOS technology
被引 3Yang Wang, Xiangliang Jin, Acheng Zhou · Journal of Central South University · 2015
Pickup impact on high-voltage multifinger LDMOS–SCR with low trigger voltage and high failure current
被引 4Yang Liu, Xiangliang Jin, Yang Wang · Solid-State Electronics · 2015
High holding current SCRs (HHI-SCR) for ESD protection and latch-up immune IC operation
被引 101M. Mergens, Christian Russ, Koen G. Verhaege · Microelectronics Reliability · 2003
此处列出前 3 条
引用本文 -
暂无引用本文的记录