研究论文

Class-aware feature generation and contrastive learning for generalized zero-shot fault diagnosis in industrial process

Qinglei Yao, Xiaoqiang Zhao, Haifeng Huo, Yongyong Hui

Lanzhou University of Technology

来源Process Safety and Environmental Protection

年份2026

DOI10.1016/j.psep.2026.109394

原文https://doi.org/10.1016/j.psep.2026.109394

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学科主题

工程

Machine Fault Diagnosis Techniques

Fault Detection and Control Systems · VLSI and Analog Circuit Testing

参考文献 27

A comparison of principal component analysis, multiway principal component analysis, trilinear decomposition and parallel factor analysis for fault detection in a semiconductor etch process

Barry M. Wise, Neal B. Gallagher, Stephanie Watts Butler · Journal of Chemometrics · 1999

被引 294

A plant-wide industrial process control problem

James J. Downs, E. F. Vogel · Computers & Chemical Engineering · 1993

被引 3,290

A Survey on Transfer Learning

Sinno Jialin Pan, Qiang Yang · IEEE Transactions on Knowledge and Data Engineering · 2009

被引 23,583

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