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Orientation Dependent Field Evaporation Behavior in Multilayer Thin Films
J.G. Brons, Andrew A. Herzing, Isaac M. Anderson, Gregory B. Thompson
University of Alabama National Institute of Standards and Technology
来源Microscopy and Microanalysis
年份2011
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Extended abstract of a paper presented at Microscopy and Microanalysis 2011 in Nashville, Tennessee, USA, August 7–August 11, 2011.
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学科主题
工程Advanced Materials Characterization Techniques
Advanced Electron Microscopy Techniques and Applications · Electron and X-Ray Spectroscopy Techniques
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