研究论文
Optimized Fabrication and Characterization of W Tips for High-Performance Atomic-Resolution Scanning Tunneling Microscope
作者信息待补充
来源Chinese Journal of Chemical Physics
年份2025
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学术脉络
学科主题
物理Surface and Thin Film Phenomena
Force Microscopy Techniques and Applications · Advanced Electron Microscopy Techniques and Applications
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