研究论文
Mechanism and Suppression of Gate Voltage Crosstalks for SiC Power MOSFETs in Half Bridge
Zhaoxiang Wei, Hao Fu, Guozhi Zheng, Xudong Zhu, Zhaokuan Liu, Jiaxin Zhai, Junhou Cao, Jiaxing Wei 等 10 位
Southeast University
来源IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
年份2026
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学术脉络
学科主题
工程Silicon Carbide Semiconductor Technologies
Electromagnetic Compatibility and Noise Suppression · Semiconductor materials and devices
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