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A Near-Field 30--40 Ghz Millimeter-Wave Phase Imaging Method for Non-Destructive Testing and Evaluation
Yiming Ding, Xilai Xie, Dongjie Bi, Xifeng Li, Libiao Peng
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学术脉络
学科主题
工程Near-Field Optical Microscopy
Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis · Microwave and Dielectric Measurement Techniques
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