基于激光技术的硬脆材料SiC表面抛光的研究进展

随着半导体产业的快速发展，对以碳化硅（SiC）为代表的第三代宽禁带功率半导体材料的抛光质量和抛光效率均提出了日益严苛的要求，因此探索更高效的表面制造技术以满足行业内的迫切需求具有极为重要的意义。本文对比了SiC材料的常用抛光技术，概述了激光抛光和不同种类的激光表面改性辅助抛光等技术的作用机理。并且，从SiC材料高硬脆和强化学惰性的材料特性出发，综述了近年来SiC材料基于激光的表面抛光技术的研究进展。基于激光技术的材料表面抛光方法能够实现SiC表面材料高效去除，且具有不易产生亚表面损伤和便于实现产业自动化等优势。总结目前半导体行业内SiC材料表面高效、无损的超精密抛光技术的两大极具前景的发展方向，包括了激光技术与化学机械抛光（CMP）技术的复合，以及多能场复合的激光抛光和激光辅助CMP技术。最后，展望了激光抛光和激光辅助CMP技术及其作用机理在未来的研究发展方向。本文为SiC等难加工的硬脆半导体材料的高效率和高质量抛光提供了切实可行的新思路和一定的参考，具有明确的指导意义。