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极紫外多层膜表面污染与清洗技术研究进展
黄凯 Huang Kai, 曾婷婷 Zeng Tingting, 邵建达 Shao Jianda, 朱美萍 Zhu Meiping
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摘要与影响
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极紫外(EUV)多层膜是EUV光刻光学系统的重要组成元件。在光刻系统运行过程中,EUV多层膜反射镜的性能易受其表面污染物的显著影响,从而降低光源输出功率和整机的使用寿命。明晰EUV多层膜反射镜面临的主要污染问题及其针对性控制技术有助于提升EUV光刻系统的稳定性和使用寿命。本文从EUV多层膜反射镜表面污染的产生原因和清洗技术两个方面,对EUV多层膜反射镜污染控制的研究进展进行综述,详细介绍了EUV光刻系统中多层膜反射镜的主要污染与形成方式,以及针对不同污染的预防、抑制和清洗技术。
逐年被引趋势
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同领域 · 同年份 · 同类型
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参考文献
Google Scholar 与 OpenAlex 的被引统计范围不同,数值存在差异属正常。
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学术脉络
学科主题
材料 / 化学Diamond and Carbon-based Materials Research
Semiconductor materials and devices · Electronic and Structural Properties of Oxides
参考文献 112
Ultraviolet filters for sensors matching biological action spectra
被引 2Denis Garoli, Mauro Alaibac, Maria-Guglielmina Pelizzo · Prace Naukowe Uniwersytetu Ekonomicznego we Wrocławiu · 2014
Sputtering by Particle Bombardment
被引 777R. Behrisch, W. Eckstein · Topics in applied physics · 2007
Analysis of the reflective performance of EUV multilayer under the influence of capping layer
被引 2Hongchang Wang, Wang Zhan-Shan, Fosheng Li · Acta Physica Sinica · 2004
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引用本文 2
TiO 2 protective capping for EUV mirrors: superior hydrogen plasma resistance and Sn contaminants removal
被引 1Sishu Wang, Zongbiao Ye, Andong Wu · Nanoscale · 2026
SiO2和TiO2保护层对极紫外多层膜表面Sn污染沉积特性的影响
被引 0段冠文 Duan Guanwen, 曾婷婷 Zeng Tingting, 步扬 Bu Yang · Acta Optica Sinica · 2025
按被引量排序,此处列出前 3 条