同步辐射X射线成像技术在多维多尺度制剂结构研究中的应用（特邀）
王思文 Wang Siwen, 赵祥宇 Zhao Xiangyu, 贾冰倩 Jia Bingqian, 孙菡 Sun Han, 赵楚倩 Zhao Chuqian, 许慧鹏 Xu Huipeng, 肖体乔 Xiao Tiqiao, 薛艳玲 Xue Yanling 等 10 位
Chinese Academy of Sciences Shanghai Institute of Materia Medica Shanghai Advanced Research Institute Shanghai Synchrotron Radiation Facility
阅读操作
确认中在文库中上传 PDF 后可生成中文音频讲解。
摘要与影响
在药物制剂开发中，制剂结构作为关键质量属性之一，是实现“质量源于设计”理念并确保制剂安全有效的重要基础。然而，现有评价主要停留于表面形貌及体外溶出等宏观层面，且传统方法在结构完整性、空间分辨率及穿透能力方面存在局限。基于同步辐射光源的X射线显微计算机断层扫描，凭借其对空间、时间及成像参数等多维度的灵活调控，可实现对制剂结构的多尺度综合表征。该技术能够表征制剂在静态和动态变化过程中的结构特征，结合光谱分析、图像定量化及统计建模，可进一步拓展其在结构解析、机制研究及性能预测中的应用，为深入理解制剂结构与性能之间的关系，推动精准制剂设计与质量控制提供可靠保障。
逐年被引趋势
关键指标
同类平均 = 1
同领域 · 同年份 · 同类型
Google Scholar 与 OpenAlex 的被引统计范围不同，数值存在差异属正常。
AI 辅助阅读
依据：摘要
可就本文提问；依据不足时会说明。
学术脉络
学科主题
物理Advanced X-ray Imaging Techniques
X-ray Diffraction in Crystallography · Cultural Heritage Materials Analysis
参考文献 50
此处列出前 3 条
引用本文 1
按被引量排序，此处列出前 3 条